2 марта 2012 г. в 10.00 в конференц-зале административного корпуса Института физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН состоится институтский семинар. Д-р Оливер Шульц и д-р Анатоль Лохманн (компания Laytec, Германия) выступит с докладом "Системы in-situ контроля процессов роста полупроводниковых структур".
страница 1 из 1
