Семинар ЗАО "Научное оборудование" в ИФП СО РАН 2 июня 2015 года

2 июня 2015 г. в Институте физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН состоится семинар «Испытания на отказоустойчивость микроэлектронных устройств и исследование механизмов отказов полупроводниковых устройств на пластине и в корпусе на базе оборудования Cascade Microtech» с участием представителей компании-изготовителя.

  страница 1 из 1