ИАиЭ СО РАН участвует в MetrolExpo-201717.05.17 ИАиЭ СО РАН участвует в MetrolExpo-201717-19 мая 2017 года в Москве проходит XIII Московский международный инновационный форум «Точные измерения – основа качества и безопасности (MetrolExpo-2017)». 1) система для измерений и контроля качества изделий микрооптики, механики и электроники; 2) баллистический абсолютный гравиметр для полевых работ ГАБЛ-ПМ; 3) дифракционные оптические элементы: синтез и применение; 4) базовая платформа для создания измерительного и технологического оборудования фотоники субмикронного разрешения. страница 1 из 1 |
|
|
© СО РАН |