Метрология в наноиндустрии: «Без ученых здесь не обойтись»

ПРЕСС-РЕЛИЗ

С 25 по 29 апреля в новосибирском Академгородке проходит четвертая школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы», организованная компанией «Роснано» совместно с Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии и институтами Сибирского отделения РАН (Институт катализа им. Г.К. Борескова и Институт физики полупроводников им. А.В.Ржанова).

На открытии школы выступил главный ученый секретарь СО РАН член-корреспондент РАН Николай Захарович Ляхов, обозначив мероприятие как  очень важное для развития направления, связанного с нанотехнологиями: «Мы все экспериментаторы, а эксперимент начинается там, где есть точные, стандартизованные измерения. Если мы не можем сравнить два опыта, проведенные в разных лабораториях, то это не наука, а, в лучшем случае, естествоиспытательство». По словам Н.З. Ляхова, в настоящий момент не создано ни одного специализированного метода измерений, который не существовал бы до эры нанотехнологий. В заключение он выразил надежду, что школа станет «этапом по формировании общей базы метрологии наноматериалов», резюмировав, что без этого двигаться вперед нельзя.
Директор «Метрологического центра Роснано» Виктор Владимирович Иванов отметил, что компания придает большое значение этим мероприятиям и рассматривает их как важный инструмент для достижения стратегической цели, направленной на метрологическое и нормативное обеспечение развивающейся наноиндустрии. В качестве задач, которые планируется решать с помощью проведения этой серии школ, В.В. Иванов обозначил следующие: повышение квалификации специалистов, обмен опытом и знаниями; стимулирование промышленного применения уже накопленного в метрологии наноиндустрии багажа с тем, чтобы он вошел в дело и был реализован; обсуждение новых направлений и новых задач в метрологии, которые возникают в ходе запросов развивающейся промышленности.
В ходе работы школы участники прослушают серию научных докладов, посвященных различным аспектам главной темы. В частности, большое внимание уделяется деятельности различных российских и международных организаций по обеспечению нормативов и стандартов в области наноиндустрии. Также значительную долю сообщений составляют относящиеся к практике, рассказывающие о применении тех или иных перспективных методов измерений, диагностик или приборов. Как сказал заместитель директора по научной работе ИФП СО РАН член-корреспондент РАН Александр Васильевич Латышев, «это связано с тем, что сейчас появляется нанотехнологическая продукция, которая требует определенных метрологий и сертификатов, так что в настоящее время активно проходят мероприятия по созданию законов, стандартов, процедуры сертификации  и стандартных образцов».
В этом году школа впервые проходит в Новосибирске, до этого места ее проведения были сосредоточены в Московской области. По словам заместителя директора по научной работе ИК СО РАН член-корреспондента РАН Валерия Ивановича Бухтиярова, который входит в состав организационного и программного комитетов мероприятия, «желание передвинуть регион было давно». Комментируя то, что хотелось бы получить в результате работы, он сказал: «Речь идет о создании нового класса метрологической методологии и стандартных образцов, по которым можно тестировать и сертифицировать продукцию наноиндустрии. Это тесно смыкается с наукой, и без ученых здесь не обойтись».

Подготовила:
Екатерина Пустолякова
ЦОС СО РАН
28.04.2011